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國產X熒光光譜儀引起樣品誤差的原因：（1）樣品物理狀態不同，樣品的顆粒度、密度、光潔度不一樣；樣品的沾污、吸潮，液體樣品的受熱膨脹，揮發、起泡、結晶及沉淀等。（2）樣品的組分分布不均勻樣品組分的偏析、礦物效應等。（3）樣品的組成不一致引起吸收、增強效應的差異造成的誤差（4）被測元素化學結合態的改變樣品氧化，引起元素百分組成的改變；輕元素化學價態不同時，譜峰發生位移或峰形發生變化引起的誤差。（5）制樣操作在制樣過程中的稱量造成的誤差，稀釋比不一致，樣品熔融不*，樣品粉碎混合不均...

ROHS設備產品特點：1、無損檢測，可對電子電氣設備，玩具指令中的有害物質進行定性定量分析。2、測量時間短，客戶可選擇測試時間：60-300秒。3、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關設計，更好地保障操作員的人身安全。流水線型外觀，美觀大方。4、配備XY軸可移動平臺，方便樣品點選測試。5、點擊軟件電動自動開關樣品腔蓋，無需手動打開關閉，人性化操作！6、采用美國電制冷Si-pin探測器：提高分析的準確性，無需耗材。7、的超短光路設計，配套*的光管管控程序，更有效延長X光管壽命。良好...

X熒光光譜儀特點：1、無損檢測，可對電子電氣設備，玩具指令中的有害物質進行定性定量分析。2、測量時間短，客戶可選擇測試時間：60-300秒。3、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關設計，更好地保障操作員的人身安全。流水線型外觀，美觀大方。4、配備XY軸可移動平臺，方便樣品點選測試。5、點擊軟件電動自動開關樣品腔蓋，無需手動打開關閉，人性化操作！6、采用美國電制冷Si-pin探測器：提高分析的準確性，無需耗材。7、的超短光路設計，配套*的光管管控程序，更有效延長X光管壽命。良好的散...

LC液相色譜儀由泵將儲液瓶中的溶劑吸入色譜系統，然后輸出，經流量與壓力測量之后，導入進樣器。被測物由進樣器注入，并隨流動相通過色譜柱，在柱上進行分離后進入檢測器，檢測信號由數據處理設備采集與處理，并記錄色譜圖。廢液流入廢液瓶。遇到復雜的混合物分離(極性范圍比較寬)還可用梯度控制器作梯度洗脫。這和氣相色譜的程序升溫類似，不同的是氣相色譜改變溫度，而LC液相色譜儀改變的是流動相極性，使樣品各組分在*條件下得以分離。LC液相色譜儀使用中常見的問題及注意事項1、過濾時有時會出現流動相...

產品名稱：X射線熒光光譜儀型號：EXF-180E功能：ROHS分析鹵素分析詳細說明一、應用領域EXF-180E是一款經濟、實用、操作簡便的X射線熒光光譜儀；對鉛（Pb）、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)、溴(Br)、氯(Cl）)等元素有很好的檢測下限以及精度。綜合應用FP法、神經網絡法、經驗系數法、基本參數法分析軟件?？?RoHS/WEEE/EN71標準/ELV指令相關管控要求。精心設計的開放性工作曲線功能，特別適用于多材料的工廠制程控制。適用于：五金、接插件、電子，電氣，...

X射線熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生發射X射線(一次X射線)，激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素都會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有一定特殊性波長的X射線，根據莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子...

涂鍍層測厚儀是無損檢測技術是一門理論上綜合性較強，又非常重視實踐環節的很有發展前途的學科。它涉及到材料的物理性質、產品設計、制造工藝、斷裂力學以及有限元計算等諸多方面。涂鍍層測厚儀在化工、電子、電力、金屬等行業中，為了實現對各類材料的保護或裝飾作用，通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法，這樣，便出現了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。覆層的厚度測量已成為金屬加工工業已用戶進行成品質量檢測*的zui重要的工序。是產品達到標準的*手...

ROHS檢測分析儀：是由歐盟于2003年1月立法制定的一項強制性標準，主要用于規范電子電氣產品的材料及工藝標準，目的在于消除電子電氣產品中的鉛、六價鉻、多溴聯苯、汞、鎘、多溴聯苯醚等有害物質。2015年6月，歐盟*公報(OJ)發布RoHS2.0修訂指令(EU)2015/863，正式將DEHP、BBP、DBP、DIBP列入附錄II限制物質清單中，至此附錄II共有十項強制管控物質。X熒光光譜儀(XRF)是由激發源(X射線管)和探測系統構成。其工作原理是：X射線管通過產生入射X射線...